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METROLOGIA

SCI/SCIE
期刊ISSN:0026-1394
大类研究方向:工程技术
影响因子:3.447
数据库类型:SCI/SCIE
是否OA:No
出版地:FRANCE
年文章数:100
小类研究方向:工程技术-仪器仪表
审稿速度:偏慢,4-8周
平均录用比例:较易

官方网站:http://iopscience.iop.org/0026-1394/

投稿网址:http://mc04.manuscriptcentral.com/met-bipm

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METROLOGIA 英文简介

The leading international journal in pure and applied metrology, published by IOP Publishing on behalf of Bureau International des Poids et Mesures (BIPM).

METROLOGIA 中文简介

国际领先的纯计量和应用计量杂志,由IOP出版社代表国际计量局(BIPM)出版。

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