Metrology and Measurement Systems

SCIE

杂志名称：计量和测量系统

简称：METROL MEAS SYST

期刊ISSN：0860-8229

大类研究方向：工程技术

影响因子：1.096

数据库类型：SCIE

是否OA：No

出版地：Poland

年文章数：60

小类研究方向：工程技术-仪器仪表

审稿速度：较慢,6-12周

平均录用比例：容易

官方网站：http://www.metrology.pg.gda.pl/

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Metrology and Measurement Systems

英文简介

Metrology and Measurement Systems is an international journal, peer-reviewed, quarterly-published, launched in 1988; since 2001 it appears in English. The journal appears both in the paper form and in the electronic form on the platform Electronic Library, Polish Academy of Sciences http://journals.pan.pl/dlibra/journal/116082.

Metrology and Measurement Systems

中文简介

计量和测量系统是国际期刊，同行评审，季刊出版，1988年发行；2001年起以英语出版。该期刊以纸质形式和电子形式出现在波兰科学院电子图书馆平台http://journals.pan.pl/dlibra/journal/116082上。

Metrology and Measurement Systems

中科院分区

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表	4区	否	否

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JCR分区

JCR分区等级	JCR所属学科	分区	影响因子
Q4	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	Q4	1.009

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中科院JCR分区历年趋势图

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