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Metrology and Measurement Systems

SCIE
期刊ISSN:0860-8229
大类研究方向:工程技术
影响因子:1.096
数据库类型:SCIE
是否OA:No
出版地:Poland
年文章数:60
小类研究方向:工程技术-仪器仪表
审稿速度:较慢,6-12周
平均录用比例:容易

官方网站:http://www.metrology.pg.gda.pl/

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Metrology and Measurement Systems 英文简介

Metrology and Measurement Systems is an international journal, peer-reviewed, quarterly-published, launched in 1988; since 2001 it appears in English. The journal appears both in the paper form and in the electronic form on the platform Electronic Library, Polish Academy of Sciences http://journals.pan.pl/dlibra/journal/116082.

Metrology and Measurement Systems 中文简介

计量和测量系统是国际期刊,同行评审,季刊出版,1988年发行;2001年起以英语出版。该期刊以纸质形式和电子形式出现在波兰科学院电子图书馆平台http://journals.pan.pl/dlibra/journal/116082上。

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